光刻膠膜厚儀的使用方法

光致發(fā)光熒光量子效率測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量材料在受到光子激發(fā)后發(fā)出熒光的效率的儀器。其原理基于光電效應(yīng)和能量守恒定律，通過(guò)測(cè)定樣品受激發(fā)后的發(fā)射光譜以及入射光和反射的光強(qiáng)等信息來(lái)計(jì)算樣品的內(nèi)外熒光量子效.. 全文

后視鏡反射率檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)后視鏡反射率的儀器，其主要特點(diǎn)如下：高精度：后視鏡反射率檢測(cè)儀具有高精度的檢測(cè)能力，可以準(zhǔn)確地檢測(cè)后視鏡的反射率?？焖伲汉笠曠R反射率檢測(cè)儀具有快速的檢測(cè)速度，可以快速地.. 全文

選擇塑料透過(guò)率測(cè)量?jī)x廠(chǎng)家的話(huà)，可以盡量選擇有歷史的廠(chǎng)家。購(gòu)買(mǎi)檢測(cè)儀就有很好的保障，可以買(mǎi)的放心，用的安心。實(shí)現(xiàn)真正的物有所值。 全文

半導(dǎo)體膜厚儀的磁感應(yīng)測(cè)量原理是基于磁通和磁阻的變化來(lái)測(cè)定半導(dǎo)體材料上薄膜的厚度。在測(cè)量過(guò)程中，儀器利用測(cè)頭產(chǎn)生磁通，這些磁通經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層（即半導(dǎo)體薄膜）流入到鐵磁基體。由于磁通的流動(dòng)受到薄膜厚度的影.. 全文