光譜膜厚儀的使用方法
近紅外透光率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理
近紅外透光率測(cè)量?jī)x的工作原理基于光學(xué)原理。它利用近紅外光（通常指700-1100納米波長(zhǎng)范圍）對(duì)被測(cè)樣品進(jìn)行照射，樣品內(nèi)部的分子會(huì)吸收特定波長(zhǎng)的光，透射出來的光線強(qiáng)度與樣品的成分、結(jié)構(gòu)和純度有關(guān)。測(cè)量.. 全文
光學(xué)干涉膜厚測(cè)量?jī)x支持的厚度范圍？
<div style="text-align:center;margin:5px 0;"><img src="https://upimg300.dns4.cn/pic1/346595/p13/2024.. 全文
誰能幫助我！反射率測(cè)試儀具有什么特點(diǎn)？ 有誰可以回答一下嗎？
反射率測(cè)試儀可以作為礦石粉末反射率光譜測(cè)量，不透明薄膜反射率測(cè)量。 全文
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