清潔度測試為精密制造把好“潔凈關(guān)”

清潔度測試的意義：為什么它是制造的生命線？ 一、清潔度檢測的必要性 零部件表面的潔凈度對于零部件工作的可靠性和持久性有著非常重要的影響。零部件表面的污染物多為切屑、毛刺、鑄沙、焊渣、磨料等固體顆粒。這些污染物會加速零件的磨損，會堵塞元件的節(jié)流孔使元件失去調(diào)節(jié)功能，會進(jìn)入滑閥間隙使閥芯卡死，會拉傷油缸內(nèi)表面使泄漏增加或使輸出力減小，會損壞泵的配油盤使泵燒傷或研死……。這些情況的出現(xiàn)最終將系統(tǒng)功能喪失或徹底癱瘓。因此，必須從每個環(huán)節(jié)的每一個細(xì)節(jié)入手來防止和減小污染物的產(chǎn)生，才可能保證安裝后的系統(tǒng)能夠安全可靠的運行。 二、市場產(chǎn)品說明 蔡司最新推出的Particle Analyzer的出現(xiàn)將工業(yè)清潔度控制過程提升到了全新的高度。Particle Analyzer清潔度分析儀采用全自動分析方式將過濾膜上的污染顆粒進(jìn)行快速成像，無需多重圖像分析即可實現(xiàn)將顆粒尺寸大小、形貌分析一步完成，在實現(xiàn)快速對污染物等級的快速評定同時還可以對污染物來源進(jìn)行分析。Particle Analyzer全自動清潔度分析儀已經(jīng)成為零部件表面清潔度分析和污染物控制的首選。 產(chǎn)品特點：1、適合精密清洗定量化的清潔?燃觳?，永@涫褂糜詡觳馕⑿】帕：痛又士帕＃? 2、對整個過濾膜上的顆粒進(jìn)行分析，因此分析的準(zhǔn)確性和可靠性更高。 3、采用全自動分析方式，因此分析效率更高，同時軟件符合國家、國際標(biāo)準(zhǔn)等多國標(biāo)準(zhǔn)（ISO4406、ISO4407、ISO16232、NAS1638、ASTMD4378-03、VDA19）。標(biāo)準(zhǔn)可自行添加。 三、產(chǎn)品應(yīng)用 對于許多行業(yè)，清潔度控制都非常重要。同汽車行業(yè)一樣，這些行業(yè)也常發(fā)生很多使產(chǎn)品壽命和可靠性降低?鬧柿課侍?，其中主要症结肚v謨諏慵庸す討星逑床瘓?，整机装配时又混葰寤少杂质航y(tǒng)景?。因此要确保产品掉[柿亢涂煽啃裕且脖匭胍笱細(xì)袂褰嗟牧慵?。諒T┬幸蛋ǎ浩?車零部件、軸承、發(fā)動機(jī)、汽輪機(jī)、航空、半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲、醫(yī)療設(shè)備、通訊、精密儀表，大型工礦設(shè)備的磨損監(jiān)測等。 四、零部?廴疚?的來源及其危害     產(chǎn)生污染的途徑有三，一是系統(tǒng)制作、安裝過程中潛伏在元件和總成內(nèi)部的污染物；二是在設(shè)備運行過程中零件磨損產(chǎn)生的污染物；三是在運輸或使用過程中通過空氣途徑進(jìn)入到系統(tǒng)內(nèi)部的污染物。顯然，系統(tǒng)制作、安裝過程中潛伏的污染物所占的比重最大，而且這些污染物多為切屑、毛刺、鑄沙、焊渣、磨料等固體顆粒。這些污染物會加速液壓件內(nèi)零件的磨損會堵塞元件的節(jié)流孔使元件失去調(diào)節(jié)功能，會進(jìn)入滑閥間隙使閥芯卡死，會拉傷油缸內(nèi)表面使泄漏增加或使輸出力減小，會損壞泵的配油盤使泵燒傷或研死……。這些情況的出現(xiàn)最終將導(dǎo)致液壓系統(tǒng)功能喪失或徹底癱瘓。 因此，必須從每個環(huán)節(jié)的每一個細(xì)節(jié)入手來防止和減小污染物的產(chǎn)生，才可能保證安裝后的液壓系統(tǒng)能夠安全可靠的運行。 清潔度測定方法對過程控制、品質(zhì)保證和失效分析非常重要，是概括用于獲得有關(guān)測定主體如各種機(jī)械設(shè)備、電子零件等清潔度數(shù)據(jù)的詳細(xì)過程。 清潔度的測定常用方法： 稱重法：稱重法是工業(yè)生產(chǎn)和試驗中最常用的清潔度測定方法。其測定原理是將一定數(shù)量的試樣在一定的條件下進(jìn)行清洗，然后將清洗的液體通過濾膜充分過濾，污物被收集在經(jīng)過干燥的濾膜表面，將濾膜再次充分干燥，根據(jù)分析天平稱出過濾清洗前后干燥的濾膜質(zhì)量，計算其增加值即為試樣品上的固體顆粒污染物的質(zhì)量。 顯微鏡法（顆粒尺寸數(shù)量法）：這是一種零件清潔度測定的新方法。其基本原理是根據(jù)被檢測的表面與污染物顆粒具有不同的光吸收或散射率。其測試方法是，將一定數(shù)量的零件在一定的條件下清洗，將清洗液通過的濾膜充分過濾，污物被收集在濾膜表面，然后將濾膜干燥，用顯微鏡（最佳設(shè)備是具有拍攝功能的圖像識別和分析設(shè)備）在光照射下檢測，按顆粒尺?綰褪客臣莆畚錕帕?，技兩得到所测捂D辶慵墓?fàn)C蹇帕Ｎ廴疚锝峁?。震}且恢質(zhì)屎暇芮逑炊炕那褰嘍燃觳夥椒?，永@涫褂糜詡觳馕⑿】帕：痛又士帕！?