ICP-MS簡(jiǎn)述

20世紀(jì)60年代末期，采用電感耦合等離子體源的原子光譜技術(shù)成為當(dāng)時(shí)應(yīng)用于微量元素分析的一項(xiàng)非常有前

途的技術(shù)（Greenfield等，1964； Wendt與Fassel， 1965）。但在分析超低含量物質(zhì)時(shí)由于背景光譜增強(qiáng)，光譜干擾

嚴(yán)重使分析靈敏度和準(zhǔn)確度達(dá)不到要求。只有質(zhì)譜法能同時(shí)滿足譜圖簡(jiǎn)單、分辨率適中和較低檢出限的要求。因此， ICP-AES所具有的樣品易于引入、分析速度快、多元素同時(shí)分析的特點(diǎn)與質(zhì)譜儀的聯(lián)用成為科學(xué)和商業(yè)上研究的

熱點(diǎn)。1970年許多公司深入的參與了該技術(shù)的研究，CP作為發(fā)射源使等離子體中分析物有效電離能夠滿足新一代

儀器源的要求。同時(shí)也注意到惰性氣體在大氣壓下的電等離子體可能是一個(gè)很好的離子源。因此人們采用四極桿 質(zhì)量分析器和通道式離子檢測(cè)器開展可行性研究。Gral在70年代中期首先報(bào)道了用等離子體作為離子源的質(zhì)譜分 析法。1981年Gray在Surrey實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)完成了 ICP源上所預(yù)期性能的設(shè)備，電感耦合等離子體質(zhì)譜儀廠家，獲得了張ICP譜圖。1983年英 國(guó)VG公司與加拿***ciex公司推出商業(yè)化的ICP-MS，1984年在用戶實(shí)驗(yàn)室才安裝ICP-MS。在此以后 ICP-MS在化學(xué)分析中廣泛應(yīng)用開來(lái)。

空白樣品檢測(cè)結(jié)果異常可能是由多種原因引起的。除了之前提到的一些因素，還可能包括以下原因：

氣源問(wèn)題：氬氣等氣源的純度不夠或存在雜質(zhì)，可能影響空白樣品的檢測(cè)。

樣品容器污染：用于存放空白樣品的容器可能受到污染，導(dǎo)致空白樣品結(jié)果異常。

靜電干擾：靜電可能對(duì)儀器的檢測(cè)產(chǎn)生干擾，尤其在干燥環(huán)境中更容易出現(xiàn)。

參數(shù)設(shè)置不當(dāng)：儀器的某些參數(shù)設(shè)置不合適，如霧化氣流量、等離子體功率等，可能影響空白樣品的檢測(cè)。

軟件問(wèn)題：儀器的軟件可能存在故障或錯(cuò)誤，導(dǎo)致數(shù)據(jù)處理異常。

外部干擾源：附近的電磁輻射、振動(dòng)等外部干擾源可能影響儀器的正常工作。

要解決這些問(wèn)題，可以嘗試以下方法：

檢查和優(yōu)化氣源，確保氣源的純度和穩(wěn)定性。

清洗或更換樣品容器，避免污染。

控制實(shí)驗(yàn)室的濕度，減少靜電干擾的可能性。

仔細(xì)檢查和調(diào)整儀器的參數(shù)設(shè)置，根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行優(yōu)化。

檢查軟件是否需要更新或重新安裝，確保軟件正常運(yùn)行。

排除外部干擾源，如移動(dòng)干擾源或?qū)x器進(jìn)行屏蔽防護(hù)。

ICP-MS理想的樣品制備應(yīng)該達(dá)到以下幾條標(biāo)準(zhǔn)

? 將固體和液體樣品轉(zhuǎn)換為澄清溶液

? 完全消解了所有的有機(jī)物質(zhì)

? 保留所有目標(biāo)檢測(cè)元素，并且元素濃度在儀器的檢測(cè)范圍內(nèi)

? 未引入新的干擾離子

? 將樣品的粘度和固體物含量調(diào)節(jié)到適合分析的范圍

? 確保所有的樣品容器都進(jìn)行過(guò)酸液浸泡的前處理，以保證的檢出限

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