





對于那些整體密封或者說沒有任何透氣孔的產(chǎn)品,就需要?dú)饷苄詸z測儀采用正壓也就是加壓方式來檢測密封性了,元器件失效分析公司, 這時(shí)候的防水
測試治具內(nèi)部密封腔體就是間接測試要用到的,正壓法采用的就是往這個(gè)包含產(chǎn)品的氣密性防水測試治具內(nèi)腔充入一定壓力的干
燥壓縮空氣,然后通過氣密性檢測儀設(shè)備內(nèi)的精密傳感器實(shí)時(shí)檢測內(nèi)部氣壓變化,也就是說,如果這個(gè)電子產(chǎn)品密封性不好,就
會有氣體進(jìn)入產(chǎn)品內(nèi)部,那么防水測試治具密封腔體內(nèi)的氣體就會相應(yīng)的減少,進(jìn)而被檢測出來,如果泄露量大于允許泄漏量,
氣密性檢測儀就會報(bào)警,元器件失效分析設(shè)備,這樣就將不合格產(chǎn)品甄別出來。

Phase12 熱阻測試儀產(chǎn)自美國 Analysis Tech(Anatech)公司,符合美軍標(biāo)和 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn).
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,衢州元器件失效分析,坐落于波士頓北部,是電子封裝器件可靠性測試的國際設(shè)計(jì),制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士,并且是提出焊點(diǎn)可靠性,熱阻分析和熱導(dǎo)率理論的. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測試于分析,熱導(dǎo)率及焊點(diǎn)可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美國有獨(dú)立的實(shí)驗(yàn)室提供技術(shù)支持. 在全世界熱阻測試儀這套設(shè)備有幾百家客戶.
主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IGBT,IC 等分立功率器件的熱阻測試及分析。


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